在表观遗传研究中，很多关键问题并非只由“一个靶点”决定。

• 增强子是否被激活？

• 抑制性修饰是否解除？

• 转录因子是否与组蛋白修饰协同调控？

• 疾病、药物处理或细胞分化过程中，哪些表观调控组合真正发生了变化？

这些问题背后，本质上都指向一个趋势：

表观研究，正在从单一靶标定位，走向多靶标组合模式解析。

传统CUT&Tag擅长高精度单靶标定位，可以帮助研究者回答“某一个靶点在哪里”。

但当研究问题进一步涉及组蛋白修饰串扰、多因子共定位、转录因子-染色质协同调控时，单靶标检测往往需要多轮实验、分批建库，再通过后续peak overlap间接推测靶标间关系。

这不仅增加样本消耗与实验周期，也难以在同一样本背景下直接解析多个靶标之间的组合关系。

为帮助研究者更高效地解析复杂表观调控网络，景杰生物正式推出新一代表观遗传多靶标检测技术——Hi-Plex CUT&Tag。

该技术可在同一实验体系中同步检测多个染色质靶标，包括经典组蛋白修饰、新型组蛋白修饰、转录因子及转录调控因子等。不仅能够获得单靶标定位信息，还可以进一步解析不同靶标在基因组区域层面的共定位与组合关系。

从单靶点定位，到多靶标共定位解析；从“看到一个靶点”，到“读懂一套调控关系”。